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综合布线:使用BIMMF测试线和通用芯轴
发布时间:2022-07-11文章来源:明辰智航

虽然安装、测试和认证网络布线设备的聪明人知道满足标准性能参数和确保应用程序支持的重要性,但即使是我们中优秀的人也可能犯错误,对底线和客户满意度产生不利影响。

让我们看看聪明人在测试网络布线系统时所做的愚蠢的事情——使用BIMMF(弯曲不敏感多模光纤)测试线和一个通用芯轴。

 

消除不需要的模式端不敏感多模光纤测试跳线

多模光纤可以支持数百种模式。这些模式分为低阶模式和高阶模式,低阶模式的传输距离更短,更靠近纤芯,高阶模式从纤芯-包层边界之间反弹并形成,因此传输距离更长。可以想象,这些不稳定的高阶模式更容易受到弯曲损耗的影响。

 

与当今高速光纤网络中使用的将光集中在纤芯中心的激光器不同,测试中使用的推荐LED光源往往会过度填充光纤,激发低阶和高阶模式。那么,为什么建议使用LED进行测试呢?激光发射不足可能会忽略高损耗事件,例如连接错位,从而导致过度乐观的低损耗测量和不良链路通过的可能性。因此,标准机构很久以前就确定,结果悲观的过度发布(即LED)是更好的选择。

 

不幸的是,用LED光源激发所有模式也会导致测量结果的巨大变化——每个连接上的变化高达0.1dB。虽然在处理110 Gig链路时,这种变化并没有引起太大的关注,但每个连接0.1dB的变化可能意味着在当今具有更严格损耗要求的高级40100 Gig光纤链路中,通过和失败之间的差异。

 

控制发射条件,使光源主要激发相对稳定的低阶模式,并消除高阶模式,从而提高精度。早期简单的方法之一就是使用普通心轴。当发射电缆紧紧围绕芯轴弯曲时,更容易受弯曲影响的高阶模式将被移除,以便只有低阶模式从发射电缆发出。听起来是个好主意,对吧?好了,不再是那么多了——尤其是在使用BIMMF测试线时!

 

虽然芯轴在消除不需要的模式方面做得很好,但对于测试当今的高速光纤链路来说,它仍然不够精确。这就是为什么我们现在有了环绕光通量(EF)方法,可以更精确地发射光线,以更好地匹配收发器的激光发射条件。

如果仍然使用芯轴,请小心测试参考线。因为测试参考跳线并不便宜,一些可能会选择使用普通跳线。但普通跳线通常由弯曲不敏感多模光纤(BIMMF)制成。如果您将BIMMF测试线与芯轴结合使用,您肯定会自找麻烦。为什么?

引入BIMMF是为了承受更紧的弯曲,而信号损耗却大大降低,这在高速光纤应用中至关重要,因为在高速光纤应用中,严格的损耗预算几乎没有为安装引起的弯曲损耗留有余量。因此,对于BIMMF,一个普通的25mm芯轴不会去除850nm波长处的高阶模式。虽然一个较小的、专门设计的心轴可能会与BIMMF测试参考线配合使用,但您不能在1300nm波长下使用相同的心轴——您可能会发现链路在1300nm处通过,但在850处失败。

答案很简单。即使在测试BIMMF链路时,也不要将BIMMF用于测试跳线。要了解有关测试BIMMF的详细信息,请在此处下载白皮书。

现在是时候放下心轴,使用新的EF测试方法了。EF不仅是一种更精确的测试方法,而且也是当今光纤链路测试行业标准的要求。

确保准确性的更简单方法?福禄克网络公司的CFP光纤损耗测试仪,采用符合通量要求的外包装,并配有EFBIMMF测试参考线。

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