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关于测试BIMMF光纤,您需要了解什么
发布时间:2022-08-31文章来源:明辰智航

弯曲不敏感多模光纤(BIMMF)是为数据中心和企业网络应用开发的,损耗预算非常紧张,能够承受更紧的弯曲,信号损耗比非BIMMF低得多。

 

BIMMF设计严格限制了更可能在弯曲期间逃逸光纤芯的高阶模式。该设计通过在光纤芯和包层之间添加专门设计的光学“沟槽”来实现这一点。

 

虽然BIMMF允许布线安装人员部署网络,而不必担心因工艺造成的弯曲损耗,但在测试时有一些考虑因素。

 

缓解泄漏模式

如果使用过满启动,所有BIMMF设计都表现出长度依赖性。发射到沟槽中的高阶模式可以在那里保持一段距离,直到它们衰减。这些在沟槽内传播的模式称为“泄漏模式”,可影响接头和连接器损耗。

 

虽然标准非BIMMF光纤的精确测试可以通过双波长源和通用测试线和芯轴实现,但标准25 mm芯轴在剥离850 nm波长的较高模式方面做得不够好,导致了悲观的损失。

 

虽然已经证明,更小、形状独特的4mm芯轴旋转更多圈可以在850nm处去除更高阶模式,但在1300nm波长处不能使用相同的芯轴。将测量两个波长之间的不同损耗读数。此外,每个波长都需要非常小且形状独特的心轴设计,这增加了测试过程的复杂性和混乱。

 

因此,在测试BIMMF时,需要更严格地控制发射条件,如环绕通量(EF),而不是芯轴测试。它缓解了发射过量和泄漏模式的问题,同时能够在两个波长上进行一致和准确的测量。

 

混合和匹配

BIMMF的建模和测试表明,优化后的BIMMF是向后兼容的,可以与非BIMMF混合,而不会产生额外的损耗。然而,这也需要更严格地控制发射,如EF。还有证据表明,连接器不兼容和光纤几何结构差异(芯径)可能会导致方向依赖性,而与光纤类型无关。

 

启动电源线选择

在测试多模光纤链路时,光源的发射条件会极大地影响衰减测量。由于在850nm1300nm波长下使用具有公共芯轴的BIMMF发射线会导致明显不同的结果,因此发射线中只能使用非BIMMF光纤。

 

为了使用推荐的单芯参考法完成永久链路测试,必须使用接收芯线提供链路衰减措施,包括安装的光纤和链路两端的两个连接。虽然设计良好的BIMMF测试线与安装的电缆芯直径和数值孔径相匹配,但谨慎的做法是也使用非BIMMF作为接收线,以避免出现过于乐观的测试结果。这是一个仍在研究的领域。

 

那么你需要做什么呢?

测试BIMMF实际上与测试其他光纤类型没有什么不同——它需要连接到光源的环绕通量发射和非BIMMF发射线,推荐的单芯参考方法,以及测量永久链路时的非BIMMV接收线。好消息是,使用Fluke Networks符合EF标准的CertiFiber®Pro,根本没有额外的工作。

要更仔细地了解BIMMF的测试方法,并查看测量和验证测试线和永久链路衰减的完整步骤。以上由福禄克经销商代理商,专注福禄克网线测试仪、光纤测试仪的明辰智航提供参考。

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